BS-6026TRF Motoriséiert Fuerschung Upright Metallurgical Mikroskop
BS-6026TRF (Front Vue)
BS-6026TRF (lénks Säit Vue)
Aféierung
BS-6026 Serie motoriséiert autofokusséiert oprecht metallurgesch Mikroskope goufen entwéckelt fir eng sécher, komfortabel a präzis Observatiounserfarung ze presentéieren.Déi motoriséiert XY Bühn, Autofokus, Touchscreen Controller, mächteg Software a Joystick wäert Är Aarbecht méi einfach maachen.D'Software huet Bewegungskontrolle, Déift vun der Feldfusioun, Objektivlensschalter, Hellegkeetskontrolle, Autofokus, Gebittsscannen, Bildstitchingfunktiounen.
Mat breet Feld vun Vue, héich Definitioun an hell / donkel Feld semi-apochromatesch an apochromatesch metallurgesch Ziler, ergonomesch Betribssystem, si gebuer fir eng perfekt Fuerschung Léisung ze bidden an en neit Muster vun industriell Fuerschung entwéckelen.
En LCD Touchscreen virum Mikroskop, deen Vergréisserungs- a Beliichtungsinformatioun kann weisen.
Eegeschaften
1. Excellent onendlech Optical System.
Mat dem exzellenten onendlechen opteschen System, bitt BS-6026 Serie oprecht metallurgesch Mikroskop héich Opléisung, Héich Definitioun a chromatesch Aberratioun korrigéiert Biller déi d'Detailer vun Ärem Exemplar ganz gutt weisen kënnen.
2. Modular Design.
BS-6026 Serie Mikroskope goufen mat Modularitéit entworf fir verschidden Industrie- a Materialwëssenschaftsapplikatiounen ze treffen.Et gëtt Benotzer Flexibilitéit e System fir spezifesch Besoinen ze bauen.
3. Adoptéieren Linn Motor a Schrauwen dreiwend Modus.
Low-Hand elektresch Fokusmechanismus, onofhängeg Operatioun vu lénks a riets Hand Rieder, dräi Geschwindegkeet Upassung, Fokusbereich 30mm, Widderhuelung Positiounsgenauegkeet: 0.1μm.
4. Schréiegt Trinocular Head ass fakultativ.
(1) Den Auge Rouer kann vun 0 ° -35 ° ugepasst ginn.
(2) Digital Kameraen oder DSLR Kameraen kënnen un den Trinokuläre Röhre verbonne sinn.
(3) De Strahlsplitter huet 3-Positioun (100:0, 20:80, 0:100).
(4) D'Splitterbar kann op béide Säiten no Ufuerderunge vum Benotzer zesummegesat ginn.
5. Kann duerch d'Kontrollhandtak kontrolléiert ginn(joystick), LCD Touchscreen a Software.
Kontroll Grëff
Dëse Mikroskop kann LED Hellegkeet, Objektivlensschaltung, Autofokus, an elektresch Upassung vun der XYZ Achs duerch d'Software a Kontrollhandtak realiséieren.D'Software kann d'Tiefe vun der Feldfusioun, Objektivlensschaltung, Hellegkeetskontroll, Autofokus, Gebittscannen, Bildstitching an aner Funktiounen realiséieren.
6.Gemittlech an einfach ze benotzen.
(1) NIS45 onendlech Plan Semi-APO an APO Hell Feld an donkel Feld Ziler.
Mat héich transparentem Glas a fortgeschratt Beschichtungstechnologie kann NIS45 Objektivobjektiv héichopléisende Biller ubidden an déi natierlech Faarf vun de Proben präzis reproduzéieren.Fir speziell Uwendungen ass eng Vielfalt vun Ziler verfügbar, dorënner Polariséierung a laang Aarbechtsdistanz.
(2) Nomarski DIC.
Mat neien entworfenen DIC Modul gëtt den Héichdifferenz vun engem Exemplar, deen net mat Hellfeld erkannt ka ginn, e Relief-ähnlechen oder 3D Bild.Et ass ideal fir d'Observatioun vu LCD-leitende Partikelen an d'Uewerflächkratzer vun der Festplack etc.
7.Verschidde Observatiounsmethoden.
Darkfield (Wafer)
Darkfield erméiglecht d'Observatioun vu verspreet oder ofgebrach Liicht aus dem Exemplar.Alles wat net flaach ass reflektéiert dëst Liicht wärend alles wat flaach ass däischter erschéngt sou datt Onfeeler kloer erausstinn.De Benotzer kann d'Existenz vu souguer enger Minutt Schrummen oder Feeler bis op den 8nm Niveau identifizéieren - méi kleng wéi d'Léisungskraaftlimit vun engem opteschen Mikroskop.Darkfield ass ideal fir Minutt Kratzer oder Mängel op engem specimen z'entdecken an Spigel Uewerfläch Exemplare ënnersicht, dorënner wafers.
Differenziell Interferenzkontrast (Leedend Partikel)
DIC ass eng mikroskopesch Observatiounstechnik, an där den Héichdifferenz vun engem Exemplar, deen net mat Hellfeld erkannt gëtt, zu engem Relief-ähnlechen oder dreidimensionalen Bild mat verbesserte Kontrast gëtt.Dës Technik benotzt polariséiert Liicht a kann mat engem Choix vun dräi speziell entworf Prisme personaliséiert ginn.Et ass ideal fir Exemplare mat ganz wéineg Héichtdifferenzen z'ënnersichen, dorënner metallurgesch Strukturen, Mineralstoffer, Magnéitkäpp, Festplack Medien a poléiert Waferflächen.
Transmitted Light Observation (LCD)
Fir transparent Exemplare wéi LCDs, Plastik a Glasmaterialien, ass iwwerdroe Liichtobservatioun verfügbar mat enger Vielfalt vu Kondensatoren.Exemplairen ënnersicht an iwwerdroen hellfeld a polariséiert Liicht kann alles an engem praktesche System erreecht ginn.
Polariséiert Liicht (Asbest)
Dës mikroskopesch Observatiounstechnik benotzt polariséiert Liicht generéiert vun engem Set vu Filtere (Analyzer a Polarisator).D'Charakteristike vun der Probe beaflossen direkt d'Intensitéit vum Liicht, deen duerch de System reflektéiert gëtt.Et ass gëeegent fir metallurgesch Strukturen (dh Wuesstem Muster vun GRAPHITE op nodular Goss Eisen), Mineralstoffer, LCDs an semiconductor Materialien.
Applikatioun
BS-6026 Serie motoriséiert Auto fokusséiert oprecht metallurgesch Mikroskope gi wäit an Instituter a Laboratoiren benotzt fir d'Struktur vu verschiddene Metaller an Legierungen ze beobachten an z'identifizéieren, et kann och an der Elektronik, der chemescher an der Halbleiterindustrie benotzt ginn, wéi wafer, Keramik, integréiert Kreesleef. , elektronesch Chips, gedréckte Circuitboards, LCD Panelen, Film, Pulver, Toner, Drot, Faseren, plated Beschichtungen, aner net-metallesch Materialien a sou weider.
Spezifizéierung
| Artikel | Spezifizéierung | BS-6026RF Fotoen | BS-6026TRF Fotoen | |
| Optesch System | NIS45 Infinite Color Corrected Optical System (TuebLängt: 200 mm) | ● | ● | |
| Kuckt Kapp | Ergo kippende Trinokulaire Kapp, justierbar 0-35 ° Schréiegt, interpupillär Distanz 47mm-78mm;Spaltverhältnis Okular: Trinokulär = 100:0 oder 20:80 oder 0:100 | ○ | ○ | |
| Seidentopf Trinokulaire Kapp, 30° Schréiegt, interpupillär Distanz: 47mm-78mm;Spaltverhältnis Okular: Trinokulär = 100:0 oder 20:80 oder 0:100 | ● | ● | ||
| Seidentopf Binocular Head, 30° Schréiegt, Interpupillär Distanz: 47mm-78mm | ○ | ○ | ||
| Okular | Super breet Feldplang Okular SW10X/25mm, Diopter justierbar | ● | ● | |
| Super breet Feldplang Okular SW10X/22mm, Diopter justierbar | ○ | ○ | ||
| Extra breet Feldplang Okular EW12.5X/16mm, Diopter justierbar | ○ | ○ | ||
| Breetfeldplang Okular WF15X/16mm, Dioptrie justierbar | ○ | ○ | ||
| Breetfeldplang Okular WF20X/12mm, Dioptrie justierbar | ○ | ○ | ||
| Objektiv | NIS45 Infinite LWD Plan Semi-APO Objektiv (BF & DF) | 5X/NA=0.15, WD=20mm | ● | ● |
| 10X/NA=0.3, WD=11mm | ● | ● | ||
| 20X/NA=0.45, WD=3.0mm | ● | ● | ||
| NIS45 Infinite LWD Plan APO Objektiv (BF & DF) | 50X/NA=0.8, WD=1.0mm | ● | ● | |
| 100X/NA=0.9, WD=1.0mm | ● | ● | ||
| NIS60 Infinite LWD Plan Semi-APO Objective (BF) | 5X/NA=0.15, WD=20mm | ○ | ○ | |
| 10X/NA=0.3, WD=11mm | ○ | ○ | ||
| 20X/NA=0.45, WD=3.0mm | ○ | ○ | ||
| NIS60 Infinite LWD Plan APO Objektiv (BF) | 50X/NA=0.8, WD=1.0mm | ○ | ○ | |
| 100X/NA=0.9, WD=1.0mm | ○ | ○ | ||
| Nosepiece | Backward motoriséiert Sextuple Nosepiece (mat DIC Slot) | ● | ● | |
| Kondensator | LWD Kondensator NA0.65 | ○ | ● | |
| Iwwerdroen Beliichtung | 12V/100W Halogenlampe, Kohler Beliichtung, mat ND6/ND25 Filter | ○ | ● | |
| 3W S-LED Lampe, zentraalt virausgesat, Intensitéit justierbar | ○ | ○ | ||
| Reflexéiert Beliichtung | Reflektéiert Liicht 12W/100W Halogenlampe, Koehler Beliichtung, mat 6 Positiounen Turret | ● | ● | |
| 100W Halogenlampenhaus | ● | ● | ||
| BF1 hell Feld Modul | ● | ● | ||
| BF2 hell Feld Modul | ● | ● | ||
| DF donkel Feld Modul | ● | ● | ||
| Bagebaute ND6, ND25 Filter a Faarfkorrekturfilter | ● | ● | ||
| Motorized Kontroll | Nosepiece Kontroll Panel mat Knäppercher.2 vun de meescht benotzt Ziler kéinte gesat ginn a wiesselen andeems Dir op de grénge Knäppchen dréckt.D'Liichtintensitéit gëtt automatesch ugepasst nodeems d'Objektiv geännert gëtt | ● | ● | |
| Fokusséieren | Low-Hand Motoriséierte Autofokusmechanismus, onofhängeg Operatioun vu lénks a riets Hand Rieder, Dräi-Vitesse Geschwindegkeet Upassung, Fokusbereich 30mm, Widderhuelungspositionéierungsgenauegkeet: 0.1μm, motoriséiert Flucht- a Erhuelungsmechanismus | ● | ● | |
| Max.Specimen Héicht | 76 mm | ● | ||
| 56 mm | ● | |||
| Etapp | Héich-Präzisioun motoriséiert XY duebel Schichten mechanesch Etapp, Gréisst 275 X 239 X 44,5 mm;reesen: X Achs, 125mm;Y-Achs, 75 mm.Widderhuelen Positionéierungsgenauegkeet ± 1,5μm, maximal Geschwindegkeet 20mm/s | ● | ● | |
| Waferhalter: kéint benotzt ginn fir 2", 3", 4" Wafer ze halen | ○ | ○ | ||
| DIC Kit | DIC Kit fir reflektéiert Beliichtung (can fir 10X, 20X, 50X, 100X Objektiver benotzt ginn) | ○ | ○ | |
| Polarisatioun Kit | Polarizer fir reflektéiert Beliichtung | ○ | ○ | |
| Analysator fir reflektéiert Beliichtung,0-360°rotéierbar | ○ | ○ | ||
| Polarizer fir iwwerdroe Beliichtung | ○ | |||
| Analyser fir iwwerdroe Beliichtung | ○ | |||
| Aner Accessoiren | 0.5X C-Mount Adapter | ○ | ○ | |
| 1X C-Mount Adapter | ○ | ○ | ||
| Stëbs Cover | ● | ● | ||
| Stroumkabel | ● | ● | ||
| Kalibrierungsrutsch 0,01 mm (Stage Mikrometer) | ○ | ○ | ||
| Exemplar Presser | ○ | ○ | ||
Opgepasst: ● Standard Outfit, ○ Optional
Zertifikat
Logistik
BS-6026 Motoriséiert Fuerschung Upright Metallurgical Mikroskop
