BS-6024TRF Fuerschung Upright Metallurgesch Mikroskop

BS-6024 Serie oprecht metallurgesch Mikroskope goufen fir Fuerschung entwéckelt mat enger Zuel vu pionéierenden Design am Erscheinungsbild a Funktiounen, mat breet Gesiichtsfeld, héich Definitioun an hell / donkel Feld semi-apochromatesch metallurgesch Ziler an ergonomesche Betribssystem, si sinn gebuer fir bitt eng perfekt Fuerschungsléisung an entwéckelen en neit Muster vum industrielle Feld.


Produit Detailer

Download

Qualitéitskontroll

Produit Tags

22=BS-6024 Fuerschung Upright Metallurgesch Mikroskop

BS-6024TRF Fotoen

Aféierung

BS-6024 Serie oprecht metallurgesch Mikroskope goufen fir Fuerschung entwéckelt mat enger Zuel vu pionéierenden Design am Erscheinungsbild a Funktiounen, mat breet Gesiichtsfeld, héich Definitioun an hell / donkel Feld semi-apochromatesch metallurgesch Ziler an ergonomesche Betribssystem, si sinn gebuer fir bitt eng perfekt Fuerschungsléisung an entwéckelen en neit Muster vum industrielle Feld.

Eegeschaften

1. Excellent onendlech Optical System.
Mat dem exzellenten onendlechen optesche System, bitt BS-6024 Serie oprecht Metallurgesch Mikroskop héich Opléisung, Héich Definitioun a chromatesch Aberratioun korrigéiert Biller déi d'Detailer vun Ärem Exemplar ganz gutt weisen kënnen.
2. Modular Design.
BS-6024 Serie Mikroskope goufen mat Modularitéit entworf fir verschidden Industrie- a Materialwëssenschaftsapplikatiounen ze treffen.Et gëtt Benotzer Flexibilitéit e System fir spezifesch Besoinen ze bauen.
3. ECO Funktioun.
D'Liicht vum Mikroskop gëtt automatesch ausgeschalt no 15 Minutte vu Bedreiwer verloossen.Et spuert net nëmmen Energie, mee spuert och d'Liewensdauer vun der Lampe.

666

4. Gemittlech an einfach ze benotzen.

77

(1) NIS45 onendlech Plan Semi-APO an APO Ziler.
Mat héich transparentem Glas a fortgeschratt Beschichtungstechnologie kann NIS45 Objektivobjektiv héichopléisende Biller ubidden an déi natierlech Faarf vun de Proben präzis reproduzéieren.Fir speziell Uwendungen ass eng Vielfalt vun Ziler verfügbar, dorënner Polariséierung a laang Aarbechtsdistanz.

33 = BS-6024 Fuerschung Upright Metallurgesch Mikroskop DIC Kit

(2) Nomarski DIC.
Mat neien entworfenen DIC Modul gëtt den Héichdifferenz vun engem Exemplar, deen net mat Hellfeld erkannt ka ginn, e Relief-ähnlechen oder 3D Bild.Et ass ideal fir d'Observatioun vu LCD-leitende Partikelen an d'Uewerflächkratzer vun der Festplack etc.

44 = BS-6024 Fuerschung Upright Metallurgical Mikroskop Focusing

(3) Fokussystem.
Fir de System gëeegent fir d'Betribsgewunnechten vun de Betreiber ze maachen, kann de Knäppche vum Fokus an der Bühn op déi lénks oder riets Säit ugepasst ginn.Dësen Design mécht d'Operatioun méi bequem.

55 = BS-6024 Fuerschung Upright Metallurgical Mikroskop Kapp

(4) Ergo Schréiegt Trinocular Kapp.
Okularröhre ka vun 0 ° bis 35 ° verstellbar sinn , Trinokulär Röhre ka mat der DSLR Kamera an der Digitalkamera verbonne sinn, mat engem 3-Positioun Strahlensplitter (0:100, 100:0, 80:20), kann d'Splitterbar sinn op béide Säite versammelt no Ufuerderunge vum Benotzer.

5. Verschidde Observatiounsmethoden.

562
反对法

Darkfield (Wafer)
Darkfield erméiglecht d'Observatioun vu verspreet oder ofgebrach Liicht aus dem Exemplar.Alles wat net flaach ass reflektéiert dëst Liicht wärend alles wat flaach ass däischter erschéngt sou datt Onfeeler kloer erausstinn.De Benotzer kann d'Existenz vu souguer enger Minutt Schrummen oder Feeler bis op den 8nm Niveau identifizéieren - méi kleng wéi d'Léisungskraaftlimit vun engem opteschen Mikroskop.Darkfield ass ideal fir Minutt Kratzer oder Mängel op engem specimen z'entdecken an Spigel Uewerfläch Exemplare ënnersicht, dorënner wafers.

Differenziell Interferenzkontrast (Leedend Partikel)
DIC ass eng mikroskopesch Observatiounstechnik, an där den Héichdifferenz vun engem Exemplar, deen net mat Hellfeld erkannt gëtt, zu engem Relief-ähnlechen oder dreidimensionalen Bild mat verbesserte Kontrast gëtt.Dës Technik benotzt polariséiert Liicht a kann mat engem Choix vun dräi speziell entworf Prisme personaliséiert ginn.Et ass ideal fir Exemplare mat ganz wéineg Héichtdifferenzen z'ënnersichen, dorënner metallurgesch Strukturen, Mineralstoffer, Magnéitkäpp, Festplack Medien a poléiert Waferflächen.

1235
驱动器

Transmitted Light Observation (LCD)
Fir transparent Exemplare wéi LCDs, Plastik a Glasmaterialien, ass iwwerdroe Liichtobservatioun verfügbar mat enger Vielfalt vu Kondensatoren.Exemplairen ënnersicht an iwwerdroen hellfeld a polariséiert Liicht kann alles an engem praktesche System erreecht ginn.

Polariséiert Liicht (Asbest)
Dës mikroskopesch Observatiounstechnik benotzt polariséiert Liicht generéiert vun engem Set vu Filtere (Analyzer a Polarisator).D'Charakteristike vun der Probe beaflossen direkt d'Intensitéit vum Liicht, deen duerch de System reflektéiert gëtt.Et ass gëeegent fir metallurgesch Strukturen (dh Wuesstem Muster vun GRAPHITE op nodular Goss Eisen), Mineralstoffer, LCDs an semiconductor Materialien.

Applikatioun

BS-6024 Serie Mikroskope gi wäit an Instituter a Laboratoiren benotzt fir d'Struktur vu verschiddene Metaller an Legierungen ze beobachten an z'identifizéieren, et kann och an der Elektronik, der chemescher an der Halbleiterindustrie benotzt ginn, wéi wafer, Keramik, integréiert Circuiten, elektronesch Chips, gedréckt. Circuit Conseils, LCD Panneauen, Film, Pudder, Toner, Drot, Faseren, plated Beschichtungen, aner net-metallesch Materialien an sou op.

Spezifizéierung

Artikel

Spezifizéierung

BS-6024RF Fotoen

BS-6024TRF Fotoen

Optesch System NIS45 Infinite Color Corrected Optical System (Röhrlängt: 200 mm)

Kuckt Kapp Ergo kippende Trinokulaire Kapp, justierbar 0-35 ° Schréiegt, interpupillär Distanz 47mm-78mm;Spaltverhältnis Okular: Trinokulär = 100:0 oder 20:80 oder 0:100

Seidentopf Trinokulaire Kapp, 30° Schréiegt, interpupillär Distanz: 47mm-78mm;Spaltverhältnis Okular: Trinokulär = 100:0 oder 20:80 oder 0:100

Seidentopf Binocular Head, 30° Schréiegt, Interpupillär Distanz: 47mm-78mm

Okular Super breet Feldplang Okular SW10X/25mm, Diopter justierbar

Super breet Feldplang Okular SW10X/22mm, Diopter justierbar

Extra breet Feldplang Okular EW12.5X/16mm, Diopter justierbar

Breetfeldplang Okular WF15X/16mm, Dioptrie justierbar

Breetfeldplang Okular WF20X/12mm, Dioptrie justierbar

Objektiv NIS45 Infinite LWD Plan Semi-APO Objektiv (BF & DF) 5X/NA=0.15, WD=20mm

10X/NA=0.3, WD=11mm

20X/NA=0.45, WD=3.0mm

NIS45 Infinite LWD Plan APO Objektiv (BF & DF) 50X/NA=0.8, WD=1.0mm

100X/NA=0.9, WD=1.0mm

NIS60 Infinite LWD Plan Semi-APO Objective (BF) 5X/NA=0.15, WD=20mm

10X/NA=0.3, WD=11mm

20X/NA=0.45, WD=3.0mm

NIS60 Infinite LWD Plan APO Objektiv (BF) 50X/NA=0.8, WD=1.0mm

100X/NA=0.9, WD=1.0mm

Nosepiece

 

Backward Sextuple Nosepiece (mat DIC Slot)

Kondensator LWD Kondensator NA0.65

Iwwerdroen Beliichtung 24V/100W Halogenlampe, Kohler Beliichtung, mat ND6/ND25 Filter

3W S-LED Lampe, zentraalt virausgesat, Intensitéit justierbar

Reflexéiert Beliichtung Reflektéiert Liicht 24V/100W Halogenlampe, Koehler Beliichtung, mat 6 Positiounen Turret

100W Halogenlampehaus

Reflektéiert Liicht mat 5W LED Lampe, Koehler Beliichtung, mat 6 Positiounen Turret

BF1 hell Feld Modul

BF2 hell Feld Modul

DF donkel Feld Modul

Built-in ND6, ND25 Filter a Faarfkorrekturfilter

ECO Funktioun ECO Funktioun mat ECO Knäppchen

Fokusséieren Niddereg-Positioun koaxial grob a fein fokusséieren, fein Divisioun 1μm, Beweegbereich 35mm

Max.Exemplar Héicht 76 mm

56 mm

Etapp Duebel Schichten mechanesch Etapp, Gréisst 210mmX170mm;bewegt Gamme 105mmX105mm (Recht oder lénks Grëff);Präzisioun: 1mm;mat schwéier oxydéiert Uewerfläch fir Abrasioun ze verhënneren, Y Richtung kéint gespaart ginn

Waferhalter: kéint benotzt ginn fir 2", 3", 4" Wafer ze halen

DIC Kit DIC Kit fir reflektéiert Beliichtung (kann fir 10X, 20X, 50X, 100X Objektiver benotzt ginn)

Polarisatioun Kit Polarisator fir reflektéiert Beliichtung

Analysator fir reflektéiert Beliichtung, 0-360°rotéierbar

Polarisator fir iwwerdroe Beliichtung

Analyser fir iwwerdroe Beliichtung

Aner Accessoiren 0.5X C-Mount Adapter

1X C-Mount Adapter

Stëbs Cover

Stroumkabel

Kalibrierung Rutsch 0,01 mm

Exemplar Presser

Notiz: ●Standard Outfit, ○Optional

System Diagramm

BS-6024 System Diagramm
BS-6024 System Diagramm-Okular
BS-6024 System Diagramm-Nosepiece
BS-6024 System Diagramm-polarisator

Dimensioun

BS-6024RF Dimensiounen

BS-6024RF Fotoen

BS-6024TRF Dimensiounen

BS-6024TRF Fotoen

Eenheet: mm

Zertifikat

mhg

Logistik

Foto (3)

  • virdrun:
  • Nächste:

  • BS-6024 Fuerschung Upright Metallurgesch Mikroskop

    Foto (1) Foto (2)

    Schreift Äre Message hei a schéckt en un eis