BCF295 Laser Scannen Konfokalmikroskopie
De konfokale Mikroskop kann en dreidimensionalen Bild vun engem transluzenten Objet duerch de bewegende Lënsesystem maachen, a kann déi subzellulär Struktur an den dynamesche Prozess präzis testen.
Spezifizéierung
| Artikel | Spezifizéierung | BCF295 |
| Optesch System | NIS60 Infinite optesch System (F200) | ● |
| Laser | Laser 405 nm, 488 nm, 561 nm, 640 nm | ● |
| Detektor | Wellelängt: 400-750nm, Detektor: 3 PMT (Fotomultiplikatorröhre) | ● |
| Scannen Kapp | Maximal Pixelgréisst: 2048 x 2048 Scanngeschwindegkeet: 2 fps (512 x 512 Pixel, bidirektional), 18 fps (512 x 32 Pixel, bidirektional) | ● |
| Pinhole | Ronn, 6 Gréissten | ● |
| Konfokalt Gesiichtsfeld | φ20mm ageschriwwene Quadrat | ● |
| Software | 2D Display / Bildveraarbechtung / Analyse | ● |
| Okular (Sichtfeld) | 10×/25mm, EP17.5mm, Diopter justierbar -5~+5, Interface Φ30mm | ● |
| Kuckt Kapp | Siedentopf trinokuläre Gesiichtskopf, 45° gekippt, Interpupillär 47-78mm, Okularinterface Φ30mm, fixe Diopter; Okular / Kamera Wiesselen: (100/0,50/50,0/100); Okular / zoumaachen Okular / justierbar Bertrand Lens | ● |
| NIS 60 Zil | 10 × apochromatesch Objektiv, NA=0.45, WD=4.0mm, Cover Rutsch=0.17mm | ● |
| 20× Apochromatesch Objektiv, NA=0.75, WD=1.1mm, Cover Rutsch=0.17mm | ● | |
| 40 × apochromatesch Objektiv, NA = 0,95, WD = 0,21 mm, Cover Rutsch = 0,11-0,23 mm | ● | |
| 60 × apochromatesch Objektiv, NA = 1,42, WD = 0,25 mm, Cover Rutsch = 0,17 mm (Ueleg) | ● | |
| 100× apochromatesch Objektiv, NA=1.45, WD=0.13, Deckelglas=0.17 (Ueleg) | ○ | |
| Nosepiece | Motoriséiert sextuple nosepiece (mat Expansioun Slot), M25 × 0,75 | ● |
| Etapp | Motoriséiert Kontroll (konventionell Typ): Plënneren Beräich 130 mm x 100 mm (Bühn Gréisst 325 mm x 144 mm), Maximal Vitesse: 50 mm / s; Resolutioun: 0.1μm, Widderhuelungsgenauegkeet: ± 1μm (gemeinsame Typ 2.5um), absolut Genauegkeet: ± 5μmIt, kann mat dräi spezielle Probehalteradapter ausgestatt sinn wéi Multi-Well Plack, 35mm Kulturteller a Rutschplack | ● |
| Kondensator | 6-Loch elektresch Kontroll: NA0.55, WD26; Phasekontrast (10/20, 40, 60 (optional)), DIC (10X, 20X/40X), eidel Lach ass fakultativ | ● |
| Focusing System | Koaxial grof a fein Fokusmechanismus, Schlag: 7mm erop an 2mm erof; grober Upassung 2mm / Rotatioun, Fein Upassung 0,002mm / Rotatioun; manuell an elektresch Kontroll, Minimum Schrëtt 0.02um wann elektresch Kontroll | ● |
| Beliichtung System | Iwwerdroen Kohler Beliichtung, 10W LED | ● |
| Epi-Beliichtung: 100W Quecksilber Luuchten; Gesiichtsfeld / Aperturblend; 3-Loch Faarffilter Insert (mat ND6 an ND25 Filteren) 6-Loch elektresch fluoreszent Turntable (Standard fir B, G, U); elektresch fluoreszent Schalter | ||
| Kierper port | Split Verhältnis: Lénks: Okular = 100:0; riets: Okular = 80: 20 | ● |
| Mëttelstuf Vergréisserung | Manuell 1X, 1.5X Schalter | ● |
| DIC Plack | 10X, 20X, 40X Plug-in Plack; kann am Converter Slot gesat ginn | ○ |
| Power Kontroll Këscht | Kann objektiv Vergréisserung, Fluoreszenzband, etc. | ● |
| Mikroskop Schock-Beweis Dësch a Computer | 1. Mikroskop Schock-Beweis Dësch: Loftkëssen Typ confocal speziell ≥1200mm × 800mm Schock-Beweis Dësch, de Panel adoptéiert héich permeability Edelstahl Plack. 2. Computer Aarbechtsstatioun: eng Rei vun HP Aarbechtsstatiounen oder ähnlechen Leeschtung Aarbechtsstatiounen. (1) HP Z840/CT Workstation/Englesch OS Windows 7 64bit Professional Edition (2) CPU: Intel Xeon E5-26434C 3.30 10MB 1600 x 1 oder ähnlech Leeschtung (3) RAM: 32GB DDR -1600 ECC oder ähnlech Leeschtung (4) HDD: 1TB 7200 RPM- SATA 1ST HDD oder ähnlech Leeschtung (5) 16X SuperMulti DVDRW SATA 1. ODD oder ähnlech Leeschtung (6) Display: 2PCS ≥20 Zoll LED Backlit Widescreen IPS LCD Displays. | ● |
Notiz: ●Standard Outfit, ○Optional
Beispill Biller
Zertifikat
Logistik
